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文献
J-GLOBAL ID：200902250258644482
整理番号：03A0408899
電気接点表面損傷の3次元解析へのディジタル走査レーザ顕微鏡の応用
Application of a Digital Scanning Laser Microscope to 3-D Analysis of Contact Surface Damages
HASEGAWA M
(Chitose Inst. Sci. & Technol., Chitose-shi, JPN)
,
MAKIMOTO J
(Keio Univ., Yokohama-shi, JPN)
,
SAWA K
(Keio Univ., Yokohama-shi, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E86-C 号： 6 ページ： 932-938 発行年： 2003年06月01日
JST資料番号： L1370A ISSN： 0916-8524 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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