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文献
J-GLOBAL ID：200902251510005354
整理番号：06A0317683
NIST乱数検定を用いた乱数性能の評価について
On the Randomness Evaluation Method using NIST Randomness Test
奥富秀俊
(東芝情報システム 技術企画部)
,
金田学
(東芝情報システム 技術企画部)
,
山口健二
(千葉大 大学院自然科学研究科)
,
中村勝洋
(千葉大 理)
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 105 号： 662(IT2005 95-132) ページ： 79-84 発行年： 2006年03月10日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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