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文献
J-GLOBAL ID：200902253390112987
整理番号：06A0552166
漏れ全反射による導体の複素屈折率の可視化
Visualization of the complex refractive index of a conductor by frustrated total internal reflection
BLIOKH Yu. P.
(Dep. of Physics, Technion-Israel Inst. of Technol., 32000 Haifa, ISR)
,
VANDER R.
(Dep. of Physics, Technion-Israel Inst. of Technol., 32000 Haifa, ISR)
,
LIPSON S. G.
(Dep. of Physics, Technion-Israel Inst. of Technol., 32000 Haifa, ISR)
,
FELSTEINER J.
(Dep. of Physics, Technion-Israel Inst. of Technol., 32000 Haifa, ISR)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 89 号： 2 ページ： 021908-021908-3 発行年： 2006年07月10日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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