文献
J-GLOBAL ID:200902254806966197
整理番号:05A0801136
EBIST:ビルトイン回路の故障検出能力をもつ新しいテスト発生器
EBIST: A Novel Test Generator With Built-In Fault Detection Capability
著者 (2件):
PRADHAN Dhiraj K.
(Univ. Bristol, Bristol, GBR)
,
LIU Chunsheng
(Univ. Nebraska, NE, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻:
24
号:
9
ページ:
1457-1466
発行年:
2005年09月
JST資料番号:
B0142C
ISSN:
0278-0070
CODEN:
ITCSDI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)