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文献
J-GLOBAL ID：200902256365318820
整理番号：05A1019558
スイッチング電圧パルスにより誘起されVO2薄膜中で観測される突然の金属-絶縁体転移
Abrupt metal-insulator transition observed in VO2 thin films induced by a switching voltage pulse
CHAE Byung-gyu
(Basic Res. Lab., Electronics and Telecommunications Res. Inst., 161 Gajeong Yuseong, Daejeon 305-350, KOR)
,
KIM Hyun-tak
(Basic Res. Lab., Electronics and Telecommunications Res. Inst., 161 Gajeong Yuseong, Daejeon 305-350, KOR)
,
YOUN Doo-hyeb
(Basic Res. Lab., Electronics and Telecommunications Res. Inst., 161 Gajeong Yuseong, Daejeon 305-350, KOR)
,
KANG Kwang-yong
(Basic Res. Lab., Electronics and Telecommunications Res. Inst., 161 Gajeong Yuseong, Daejeon 305-350, KOR)
資料名：
Physica B. Condensed Matter
(Physica B. Condensed Matter)
巻： 369 号： 1-4 ページ： 76-80 発行年： 2005年12月01日
JST資料番号： H0676B ISSN： 0921-4526 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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