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文献
J-GLOBAL ID：200902257735235705
整理番号：07A0678484
高性能ZnO/ZnMgOヘテロ-MISFETの改良安定性
Improved Stability of High-Performance ZnO/ZnMgO Hetero-MISFETs
SASA Shigehiko
(Osaka Inst. Technol., Osaka, JPN)
,
HAYAFUJI Takeo
(Osaka Inst. Technol., Osaka, JPN)
,
KAWASAKI Motoki
(Osaka Inst. Technol., Osaka, JPN)
,
KOIKE Kazuto
(Osaka Inst. Technol., Osaka, JPN)
,
YANO Mitsuaki
(Osaka Inst. Technol., Osaka, JPN)
,
INOUE Masataka
(Osaka Inst. Technol., Osaka, JPN)
資料名：
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻： 28 号： 7 ページ： 543-545 発行年： 2007年07月
JST資料番号： B0344B ISSN： 0741-3106 CODEN： EDLEDZ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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