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文献
J-GLOBAL ID：200902258370419590
整理番号：08A1077540
1-エチル-3-メチルイミダゾリウムビス(トリフルオロメチルスルホニル)イミドRT(室温)イオン液体の飛行時間二次イオン質量分析研究
A time-of-flight secondary ion mass spectroscopy study of 1-ethyl-3-methylimidazolium bis(trifluoromethylsulfonyl)imide RT-ionic liquid
GUENSTER Jens
(International Center for Young Scientists, National Inst. for Materials Sci., 1-1 Namiki, Tsukuba, Ibaraki 305-0044, JPN)
,
HOEFFT Oliver
(Inst. fuer Metallurgie, Technische Universitaet Clausthal, Robert-Koch-Strasse 42, D-38678 Clausthal-Zellerfeld, DEU)
,
KRISCHOK Stefan
(Inst. fuer Physik und Inst. fuer Mikro- und Nanotechnologien der TU Ilmenau, P.O. Box 100565, D-98684 Ilmenau, DEU)
,
SOUDA Ryutaro
(Nanoscale Materials Center, National Inst. for Materials Sci., 1-1 Namiki, Tsukuba, Ibaraki 305-0044, JPN)
資料名：
Surface Science
(Surface Science)
巻： 602 号： 21 ページ： 3403-3407 発行年： 2008年11月01日
JST資料番号： C0129B ISSN： 0039-6028 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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