文献
J-GLOBAL ID:200902258702953811
整理番号:06A0281451
CMOSガイガーフォトダイオード画素のキャラクタリゼーション
Characterization of a CMOS Geiger Photodiode Pixel
著者 (4件):
STAPELS Christopher J.
(Radiation Monitoring Devices, Inc., MA, USA)
,
LAWRENCE William G.
(Radiation Monitoring Devices, Inc., MA, USA)
,
AUGUSTINE Frank L.
(Augustine Engineering, CA, USA)
,
CHRISTIAN James F.
(Radiation Monitoring Devices, Inc., MA, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
53
号:
4
ページ:
631-635
発行年:
2006年04月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)