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文献
J-GLOBAL ID：200902259512045885
整理番号：09A1038655
SRAMのアルファ粒子および中性子起因のソフトエラー率とスケーリングトレンド
Alpha Particle and Neutron-induced Soft Error Rates and Scaling Trends in SRAM
KOBAYASHI Hajime
(Sony Corp., Kanagawa, JPN)
,
KAWAMOTO Nobutaka
(Sony Corp., Kanagawa, JPN)
,
KASE Jun
(Sony Corp., Kanagawa, JPN)
,
SHIRAISH Ken
(Sony Corp., Kanagawa, JPN)
資料名：
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 47th Vol.1 ページ： 206-211 発行年： 2009年
JST資料番号： A0631A ISSN： 1541-7026 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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