文献
J-GLOBAL ID:200902261704632630
整理番号:05A0622733
表面測定用原子間力顕微鏡におけるタッピングチップのダイナミックスと制御
Dynamics and Control of Tapping Tip in Atomic Force Microscope for Surface Measurement Applications
著者 (3件):
LEE S.I.
(Univ. Seoul, Seoul, KOR)
,
LEE J.M.
(Seoul National Univ., Seoul, KOR)
,
HONG S.H.
(Seoul National Univ., Seoul, KOR)
資料名:
CIRP Annals (International Inst. for Production Engineering Research)
(CIRP Annals (International Inst. for Production Engineering Research))
巻:
54
号:
1
ページ:
527-530
発行年:
2005年
JST資料番号:
E0026A
ISSN:
0007-8506
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)