文献
J-GLOBAL ID:200902262353281301
整理番号:04A0020780
電極表面でのSEI層のXAFSとTOF-SIMSによる分析
XAFS and TOF-SIMS analysis of SEI layers on electrodes
著者 (5件):
OTA H
(Center for Analytical Chemistry and Sci., Inc.(CACS, Inc.), Ibaraki, JPN)
,
AKAI T
(Center for Analytical Chemistry and Sci., Inc.(CACS, Inc.), Ibaraki, JPN)
,
NAMITA H
(Center for Analytical Chemistry and Sci., Inc.(CACS, Inc.), Ibaraki, JPN)
,
YAMAGUCHI S
(Mitsubishi Chemical Corp.(MCC), Ibaraki, JPN)
,
NOMURA M
(High Energy Accelerator Res. Organization(KEK), Tsukuba, JPN)
資料名:
Journal of Power Sources
(Journal of Power Sources)
巻:
119/121
ページ:
567-571
発行年:
2003年06月01日
JST資料番号:
B0703B
ISSN:
0378-7753
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)