文献
J-GLOBAL ID:200902263337961021
整理番号:04A0345340
低損失誘電体と高温超伝導膜の測定法の標準化
Standardization of Measurement Methods of Low-Loss Dielectrics and High-Temperature Superconducting Films
著者 (1件):
KOBAYASHI Y
(Saitama Univ., Saitama-shi, JPN)
資料名:
IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
E87-C
号:
5
ページ:
652-656
発行年:
2004年05月01日
JST資料番号:
L1370A
ISSN:
0916-8524
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)