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文献
J-GLOBAL ID:200902263424001409   整理番号:07A0418675

貴金属被覆Wナノチップによる電界電子放出における安定性 頂点構造依存性

Stabilities in field electron emissions from noble-metal covered W nano-tips: apex structure dependence
著者 (9件):
ITAGAKI T.
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
ROKUTA E.
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
KUO H.-S.
(Academia Sinica, Taipei, TWN)
NOMURA K.
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
ISHIKAWA T.
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
CHO B.-L.
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
HWANG I.-S.
(Academia Sinica, Taipei, TWN)
TSONG T. T.
(Academia Sinica, Taipei, TWN)
OSHIMA C.
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)

資料名:
Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)

巻: 39  号:ページ: 299-303  発行年: 2007年04月 
JST資料番号: E0709A  ISSN: 0142-2421  CODEN: SIANDQ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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