文献
J-GLOBAL ID:200902265523307024
整理番号:07A0280724
c及びm面窒化ガリウム上での金属-酸化物-半導体キャパシタの比較
Comparison of metal-oxide-semiconductor capacitors on c- and m-plane gallium nitride
著者 (3件):
MATOCHA Kevin
(GE Global Res. Center, Niskayuna, New York 12309)
,
TILAK Vinayak
(GE Global Res. Center, Niskayuna, New York 12309)
,
DUNNE Greg
(GE Global Res. Center, Niskayuna, New York 12309)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
90
号:
12
ページ:
123511-123511-2
発行年:
2007年03月19日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)