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文献
J-GLOBAL ID：200902266230148912
整理番号：07A0267200
遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について
On generation of high-quality test patterns for transition faults
森島翔平
(九州工大)
,
山本真裕
(九州工大)
,
梶原誠司
(九州工大)
,
WEN Xiaoqing
(九州工大)
,
福永昌勉
(半導体理工学センター)
,
畠山一実
(半導体理工学センター)
,
相京隆
(半導体理工学センター)
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 106 号： 528(DC2006 80-90) ページ： 25-30 発行年： 2007年02月02日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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