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文献
J-GLOBAL ID：200902267053767999
整理番号：08A0187805
最先端SOI-CMOS技術における多重ストレスメモライゼーション
Multiple Stress Memorization In Advanced SOI CMOS Technologies
WEI A.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
WIATR M.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
MOWRY A.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
GEHRING A.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
BOSCHKE R.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
SCOTT C.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
HOENTSCHEL J.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
DUENKEL S.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
GERHARDT M.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
FEUDEL T.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
LENSKI M.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
WIRBELEIT F.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
OTTERBACH R.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
CALLAHAN R.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
KOERNER G.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
KRUMM N.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
GREENLAW D.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
RAAB M.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
,
HORSTMANN M.
(AMD Saxony LLC & Co. KG, Dresden, DEU)
資料名：
Digest of Technical Papers. Symposium on VLSI Technology
(Digest of Technical Papers. Symposium on VLSI Technology)
巻： 2007 ページ： 174-175 発行年： 2007年
JST資料番号： A0035B ISSN： 0743-1562 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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