文献
J-GLOBAL ID:200902267253982045
整理番号:07A0727990
脱イオン水中で電圧を印加し光で強化した電気化学的酸化によるGaN表面の損傷の少ないエッチング
Low Damage Etching of GaN Surfaces via Bias-Assisted Photoenhanced Electrochemical Oxidation in Deionized Water
著者 (4件):
ALPTEKIN Emre
(Bilkent Univ., Ankara, TUR)
,
YU Hongbo
(Bilkent Univ., Ankara, TUR)
,
OZBAY Ekmel
(Bilkent Univ., Ankara, TUR)
,
AKTAS Ozgur
(Bilkent Univ., Ankara, TUR)
資料名:
Journal of Electronic Materials
(Journal of Electronic Materials)
巻:
36
号:
6
ページ:
629-633
発行年:
2007年06月
JST資料番号:
D0277B
ISSN:
0361-5235
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)