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文献
J-GLOBAL ID：200902268539027829
整理番号：07A0589741
走査型トンネル顕微鏡法とab initio計算によるSi(001)4×2-Ga構造の研究
Study of Si(001)4×2-Ga structure by scanning tunneling microscopy and ab initio calculation
HARA Shinsuke
(Dep. of Physics, Fac. of Sci. and Technol., Tokyo Univ. of Sci., 2641 Yamazaki, Noda, Chiba 278-8510, JPN)
,
KOBAYASHI Hidekazu
(Dep. of Physics, Fac. of Sci. and Technol., Tokyo Univ. of Sci., 2641 Yamazaki, Noda, Chiba 278-8510, JPN)
,
IROKAWA Katsumi
(Dep. of Physics, Fac. of Sci. and Technol., Tokyo Univ. of Sci., 2641 Yamazaki, Noda, Chiba 278-8510, JPN)
,
FUJISHIRO Hiroki I.
(Dep. of Applied Electronics, Fac. of Industrial Sci. and Technol., Tokyo Univ. of Sci., 2641 Yamazaki, Noda, Chiba ...)
,
WATANABE Kazuyuki
(Dep. of Physics, Fac. of Sci., Tokyo Univ. of Sci., 1-3 Kagurazaka, Shinjuku, Tokyo 162-8601, JPN)
,
MIKI Hirofumi
(Dep. of Physics, Fac. of Sci. and Technol., Tokyo Univ. of Sci., 2641 Yamazaki, Noda, Chiba 278-8510, JPN)
,
KAWAZU Akira
(Dep. of Physics, Fac. of Sci. and Technol., Tokyo Univ. of Sci., 2641 Yamazaki, Noda, Chiba 278-8510, JPN)
資料名：
Surface Science
(Surface Science)
巻： 601 号： 12 ページ： 2415-2419 発行年： 2007年06月15日
JST資料番号： C0129B ISSN： 0039-6028 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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