文献
J-GLOBAL ID:200902268917745913
整理番号:04A0873347
共焦点マイクロ蛍光X線イメージングによる痕跡量元素の三次元分析
Three-Dimensional Trace Element Analysis by Confocal X-ray Microfluorescence Imaging
著者 (8件):
VINCZE L
(Univ. Antwerp, Wilrijk, BEL)
,
VEKEMANS B
(Univ. Antwerp, Wilrijk, BEL)
,
BRENKER F E
(Univ. Cologne, Cologne, DEU)
,
FALKENBERG G
(Hamburger Synchrotronstrahlungenslabor at Deutsches Elektronen-Synchrotron, Hamburg, DEU)
,
RICKERS K
(Hamburger Synchrotronstrahlungenslabor at Deutsches Elektronen-Synchrotron, Hamburg, DEU)
,
SOMOGYI A
(ID22, ESRF, Grenoble, FRA)
,
KERSTEN M
(Univ. Mainz, Mainz, DEU)
,
ADAMS F
(Univ. Antwerp, Wilrijk, BEL)
資料名:
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻:
76
号:
22
ページ:
6786-6791
発行年:
2004年11月15日
JST資料番号:
A0395A
ISSN:
0003-2700
CODEN:
ANCHAM
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)