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文献
J-GLOBAL ID：200902269091431050
整理番号：08A0428560
二ビーム干渉測定を用いた新しい表面力装置
New surface forces apparatus using two-beam interferometry
KAWAI Hiroshi
(Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials, Tohoku Univ., Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN)
,
SAKUMA Hiroshi
(Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials, Tohoku Univ., Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN)
,
MIZUKAMI Masashi
(Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials, Tohoku Univ., Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN)
,
ABE Takashi
(Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials, Tohoku Univ., Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN)
,
FUKAO Yasuhiro
(Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials, Tohoku Univ., Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN)
,
TAJIMA Haruo
(Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials, Tohoku Univ., Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN)
,
KURIHARA Kazue
(Inst. of Multidisciplinary Res. for Advanced Materials, Tohoku Univ., Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, JPN)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 79 号： 4 ページ： 043701 発行年： 2008年04月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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