文献
J-GLOBAL ID:200902269137445094
整理番号:05A0085641
基層上の圧電薄膜の間の界面の自由端における剥離の実験的および理論的研究
Experimental and theoretical investigations of delamination at free edge of interface between piezoelectric thin films on a substrate
著者 (6件):
SHANG F
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
KITAMURA T
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
HIRAKATA H
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
KANNO I
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
KOTERA H
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
TERADA K
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名:
International Journal of Solids and Structures
(International Journal of Solids and Structures)
巻:
42
号:
5/6
ページ:
1729-1741
発行年:
2004年12月16日
JST資料番号:
B0700A
ISSN:
0020-7683
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)