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文献
J-GLOBAL ID:200902270203477600   整理番号:07A0478889

透過と反射のデータから得たSi基板上のβ-FeSi2膜の光学定数とUrbachテイルの起源

Optical Constants of β-FeSi2 Film on Si Substrate Obtained from Transmittance and Reflectance Data and Origin of Urbach Tail
著者 (5件):
KAKEMOTO Hirofumi
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
HIGUCHI Tohru
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
SHIBATA Hajime
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
WADA Satoshi
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
TSURUMI Takaaki
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)

巻: 46  号: 4B  ページ: 2405-2408  発行年: 2007年04月30日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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