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文献
J-GLOBAL ID：200902270203477600
整理番号：07A0478889
透過と反射のデータから得たSi基板上のβ-FeSi2膜の光学定数とUrbachテイルの起源
Optical Constants of β-FeSi2 Film on Si Substrate Obtained from Transmittance and Reflectance Data and Origin of Urbach Tail
KAKEMOTO Hirofumi
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
,
HIGUCHI Tohru
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
SHIBATA Hajime
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
,
WADA Satoshi
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
,
TSURUMI Takaaki
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 46 号： 4B ページ： 2405-2408 発行年： 2007年04月30日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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