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文献
J-GLOBAL ID:200902270383952971   整理番号:06A0195695

Si/SiGeヘテロ構造における歪のRaman研究 Siバンド歪シフト係数の正確な測定

Raman investigation of strain in Si/SiGe heterostructures: Precise determination of the strain-shift coefficient of Si bands
著者 (4件):
NAKASHIMA S.
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Central 2 1-1-1, Umezono, Tsukuba 305-8568, JPN)
MITANI T.
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Central 2 1-1-1, Umezono, Tsukuba 305-8568, JPN)
NINOMIYA M.
(Sumitomo Mitsubishi Silicon Corp., 314 Nishisangao, Noda-shi Chiba 278-0015, JPN)
MATSUMOTO K.
(Sumitomo Mitsubishi Silicon Corp., 314 Nishisangao, Noda-shi Chiba 278-0015, JPN)

資料名:
Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)

巻: 99  号:ページ: 053512-053512-6  発行年: 2006年03月01日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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