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文献
J-GLOBAL ID：200902270756430229
整理番号：05A0944138
ナノ構造解析へのX線異常分散を活用した小角X線散乱の応用
Application of Small-Angle X-ray Scattering Utilizing X-ray Anomalous Dispersion to Nano-Structure Analysis
SUGIYAMA Masaaki
(Kyoto Univ., Osaka, JPN)
,
SOEJIMA Yuji
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
HARA Kazuhiro
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
TAKEI Fumie
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
ITOH Keiji
(Kyoto Univ., Osaka, JPN)
,
MORI Kazuhiro
(Kyoto Univ., Osaka, JPN)
,
FUKUNAGA Toshiharu
(Kyoto Univ., Osaka, JPN)
資料名：
Transactions of the Materials Research Society of Japan
(Transactions of the Materials Research Society of Japan)
巻： 30 号： 3 ページ： 855-858 発行年： 2005年09月
JST資料番号： L4468A ISSN： 1382-3469 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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