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文献
J-GLOBAL ID：200902271544182906
整理番号：06A0390183
エネルギーフィルタリングしない集束ビーム電子線回折による局所的歪み場の精密測定
Precise measurement of local strain fields with energy-unfiltered convergent-beam electron diffraction
YAMAZAKI Takashi
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
ISAKA Tomoko
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
KURAMOCHI Koji
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
HASHIMOTO Iwao
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
WATANABE Kazuto
(Tokyo Metropolitan Coll. Industrial Technol., Tokyo, JPN)
資料名：
Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography
(Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography)
巻： 62 号： 3 ページ： 201-207 発行年： 2006年05月
JST資料番号： A0315B ISSN： 0108-7673 CODEN： ACACEQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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