文献
J-GLOBAL ID:200902271675922204
整理番号:04A0320711
拡散型SiC p-i-nダイオードの順方向電圧低下による劣化
Forward voltage drop degradation in diffused SiC p-i-n diodes
著者 (6件):
SOLOVIEV S
(Univ. South Carolina, South Carolina)
,
CHEREDNICHENKO D
(Univ. South Carolina, South Carolina)
,
GAO Y
(Bandgap Technol. Inc., South Carolina)
,
GREKOV A
(Univ. South Carolina, South Carolina)
,
MA Y
(Univ. South Carolina, South Carolina)
,
SUDARSHAN T S
(Univ. South Carolina, South Carolina)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
95
号:
8
ページ:
4376-4380
発行年:
2004年04月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)