文献
J-GLOBAL ID:200902272108070171
整理番号:05A0993693
原子間力顕微鏡による力測定 技術,解釈及び応用
Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications
著者 (3件):
BUTT Hans-juergen
(Max-Planck-Institute for Polymer Res., D-55128 Mainz, DEU)
,
CAPPELLA Brunero
(Federal Inst. for Material Res. and Testing, D-12205 Berlin, DEU)
,
KAPPL Michael
(Max-Planck-Institute for Polymer Res., D-55128 Mainz, DEU)
資料名:
Surface Science Reports
(Surface Science Reports)
巻:
59
号:
1-6
ページ:
1-152
発行年:
2005年10月
JST資料番号:
E0422B
ISSN:
0167-5729
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)