文献
J-GLOBAL ID:200902272429580058
整理番号:05A0318097
CMOS-VLSI回路における待機と作動時の漏れ電流の制御と最小化
Standby and Active Leakage Current Control and Minimization in CMOS VLSI Circuits
著者 (2件):
FALLAH Farzan
(Fujitsu Labs. of America, Inc., California, USA)
,
PEDRAM Massoud
(Univ. Southern California, California, USA)
資料名:
IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
E88-C
号:
4
ページ:
509-519
発行年:
2005年04月01日
JST資料番号:
L1370A
ISSN:
0916-8524
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)