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文献
J-GLOBAL ID：200902274750664037
整理番号：05A0994572
集束イオンビーム-走査電子顕微鏡による中空ラテックス粒子の断面解析
Cross-sectional analysis of hollow latex particles by focused ion beam-scanning electron microscopy
BEACH Elvin
(Materials Sci. and Engineering Dep., The Ohio State Univ., Columbus, OH 43210, USA)
,
KEEFE Melinda
(The Dow Chemical Co., Midland, MI 48667, USA)
,
HEESCHEN William
(The Dow Chemical Co., Midland, MI 48667, USA)
,
ROTHE Deborah
(The Dow Chemical Co., Midland, MI 48667, USA)
資料名：
Polymer
(Polymer)
巻： 46 号： 25 ページ： 11195-11197 発行年： 2005年11月28日
JST資料番号： D0472B ISSN： 0032-3861 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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