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文献
J-GLOBAL ID：200902275897924367
整理番号：04A0893204
266nm連続波固体レーザの信頼性に及ぼすパージ・ガスの影響
Effect of Purge Gas on the Reliability of a 266 nm Continuous-Wave Solid-State Laser
WADA H
(SONY Co., Atsugi-shi, JPN)
,
OKA M
(SONY Co., Atsugi-shi, JPN)
,
TATSUKI K
(SONY Co., Atsugi-shi, JPN)
,
SAITO M
(SONY Co., Atsugi-shi, JPN)
,
KUBOTA S
(SONY Co., Atsugi-shi, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E87-C 号： 12 ページ： 2186-2188 発行年： 2004年12月01日
JST資料番号： L1370A ISSN： 0916-8524 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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