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文献
J-GLOBAL ID：200902276016301245
整理番号：04A0628671
ヘテロ接合バイポーラトランジスタ構造のフォトリフレクタンス・スペクトルに現れるFranz-Keldysh振動を発生させる層の線形状解析による非破壊決定
Nondestructive determination of layers producing Franz-Keldysh oscillations appearing in photoreflectance spectra of heterojunction bipolar transistor structures based on their line-shape analysis
TAKEUCHI H
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
YAMAMOTO Y
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
NAKAYAMA M
(Osaka City Univ., Osaka, JPN)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 96 号： 4 ページ： 1967-1974 発行年： 2004年08月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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