文献
J-GLOBAL ID:200902277179762955
整理番号:08A0777831
シンクロトロン放射ベース走査型トンネル顕微鏡法によるナノスケール元素同定
Nanoscale elemental identification by synchrotron-radiation-based scanning tunneling microscopy
著者 (20件):
SAITO Akira
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
SAITO Akira
(RIKEN, Hyogo, JPN)
,
SAITO Akira
(JST-PRESTO, Saitama, JPN)
,
TAKAGI Yasumasa
(Inst. for Molecular Sci., Okazaki, JPN)
,
TAKAHASHI Koji
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
HOSOKAWA Hiromasa
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
HOSOKAWA Hiromasa
(RIKEN, Hyogo, JPN)
,
HANAI Kazuhisa
(Osaka Prefecture Univ., Osaka, JPN)
,
TANAKA Takehiro
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
TANAKA Takehiro
(RIKEN, Hyogo, JPN)
,
AKAI-KASAYA Megumi
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
AKAI-KASAYA Megumi
(JST-PRESTO, Saitama, JPN)
,
TANAKA Yoshihito
(RIKEN, Hyogo, JPN)
,
SHIN Shik
(RIKEN, Hyogo, JPN)
,
ISHIKAWA Tetsuya
(RIKEN, Hyogo, JPN)
,
KUWAHARA Yuji
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KUWAHARA Yuji
(RIKEN, Hyogo, JPN)
,
KUWAHARA Yuji
(JST-ICORP, Saitama, JPN)
,
AONO Masakazu
(JST-ICORP, Saitama, JPN)
,
AONO Masakazu
(National Inst. for Materials Sci., Tsukuba, JPN)
資料名:
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻:
40
号:
6/7
ページ:
1033-1036
発行年:
2008年06月
JST資料番号:
E0709A
ISSN:
0142-2421
CODEN:
SIANDQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)