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文献
J-GLOBAL ID：200902277260047985
整理番号：06A0896385
原子間力顕微鏡用のチップキャラクタライザー
Tip characterizer for atomic force microscopy
ITOH Hiroshi
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., AIST Tsukuba Central 2, 1-1 Umezono 1-Chome, Tsukuba-shi ...)
,
FUJIMOTO Toshiyuki
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., AIST Tsukuba Central 2, 1-1 Umezono 1-Chome, Tsukuba-shi ...)
,
ICHIMURA Shingo
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., AIST Tsukuba Central 2, 1-1 Umezono 1-Chome, Tsukuba-shi ...)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 77 号： 10 ページ： 103704-103704-4 発行年： 2006年10月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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