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文献
J-GLOBAL ID:200902277352474219   整理番号:07A0092047

アセンブリ応力によるトランジスタ特性変動定量化技術と応力緩和構造

Transistor Characteristic Evaluation Technology for Assembly Stress and Assembly Stress Relaxation Design
著者 (7件):
小池功二
(松下電器産業)
竹村康司
(松下電器産業)
佐野光
(松下電器産業)
伊藤豊
(松下電器産業)
高橋昌男
(松下電器産業)
石川和弘
(松下電器産業)
平野博茂
(松下電器産業)

資料名:
電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻: 106  号: 417(SDM2006 202-216)  ページ: 83-87  発行年: 2006年12月07日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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