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文献
J-GLOBAL ID：200902278047560713
整理番号：08A0075397
65nm CMOS技術における回路信頼性のコンパクトモデルとシミュレーション
Compact Modeling and Simulation of Circuit Reliability for 65-nm CMOS Technology
WANG Wenping
(Arizona State Univ., AZ, USA)
,
REDDY Vijay
(Texas Instruments, TX, USA)
,
KRISHNAN Anand T.
(Texas Instruments, TX, USA)
,
VATTIKONDA Rakesh
(Broadcom Corp., AZ, USA)
,
KRISHNAN Srikanth
(Texas Instruments, TX, USA)
,
CAO Yu
(Arizona State Univ., AZ, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
(IEEE Transactions on Device and Materials Reliability)
巻： 7 号： 4 ページ： 509-517 発行年： 2007年12月
JST資料番号： W1320A ISSN： 1530-4388 CODEN： ITDMA2 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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