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J-GLOBAL ID：200902278208761242 整理番号：07A0462235

「有機半導体デバイスと表面・界面:デバイス技術と物性評価法の進展」周波数変調型ケルビンプローブ原子間力顕微鏡による有機薄膜評価

Investigations of Organic Materials by Kelvin Probe Force Microscopy using Frequency Modulation Method

著者 (1件)：

山田啓文

(京大)

資料名：

表面科学 (JSSSJ)

巻： 28 号： 5 ページ： 253-263 発行年： 2007年05月10日
JST資料番号： F0940B ISSN： 0388-5321 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：解説発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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