前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：200902279845198752
整理番号：06A0173290
DRAMのワーストビット漏れ電流の直接観察
Direct Observation of Worst-Bit Leakage Currents of DRAM
MORI Yuki
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
,
KAMOHARA Shiro
(Renesas Technol. Corp., Ibaraki, JPN)
,
MONIWA Masahiro
(Renesas Technol. Corp., Ibaraki, JPN)
,
OHYU Kiyonori
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
,
OHYU Kiyonori
(Elpida Memory, Inc., Kanagawa, JPN)
,
YAMANAKA Toshiaki
(Renesas Technol. Corp., Ibaraki, JPN)
,
YAMADA Ren-ichi
(Hitachi, Ltd., Tokyo, JPN)
資料名：
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 53 号： 2 ページ： 398-400 発行年： 2006年02月
JST資料番号： C0222A ISSN： 0018-9383 CODEN： IETDAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。