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文献
J-GLOBAL ID：200902280633018531
整理番号：03A0438629
走査型音響顕微鏡およびナノインデンテーションテスタによる塗膜劣化に対する膜厚の影響
Effect of Film Thickness on Coated Film Degradation by Scanning Acoustic Microscope and Nanoindentation Tester
HIROSE N
(Tokyo Metropolitan Coll. Aeronautical Engineering, Tokyo, JPN)
,
TANAKA S
(Tokyo Metropolitan Tama Small and Medium-sized Business Promotion Center, Tokyo, JPN)
,
TANAKI T
(Tokyo Metropolitan Industrial Technol. Res. Inst., Tokyo, JPN)
,
SEKINE I
(Tokyo Univ., Chiba, JPN)
資料名：
Journal of the Electrochemical Society
(Journal of the Electrochemical Society)
巻： 150 号： 6 ページ： B282-B287 発行年： 2003年06月
JST資料番号： C0285A ISSN： 1945-7111 CODEN： JESOAN 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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