文献
J-GLOBAL ID:200902280762663907
整理番号:03A0336300
組成の関数としてのPb(Zr1-xTix)O3薄膜の圧電特性に対する内因性および外因性寄与の評価
Evaluation of intrinsic and extrinsic contributions to the piezoelectric properties of Pb(Zr1-XTX)O3 thin films as a function of composition
著者 (4件):
KIM D-J
(North Carolina State Univ., North Carolina)
,
MARIA J-P
(North Carolina State Univ., North Carolina)
,
KINGON A I
(North Carolina State Univ., North Carolina)
,
STREIFFER S K
(Argonne National Lab., Illinois)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
93
号:
9
ページ:
5568-5575
発行年:
2003年05月01日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)