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文献
J-GLOBAL ID：200902281015843528
整理番号：07A0499485
Nafion膜劣化のXPS研究
XPS investigation of Nafion membrane degradation
CHEN Cheng
(School of Chemical and Biomolecular Engineering, Georgia Inst. of Technol., Atlanta, GA 30332, USA)
,
LEVITIN Galit
(School of Chemical and Biomolecular Engineering, Georgia Inst. of Technol., Atlanta, GA 30332, USA)
,
HESS Dennis W.
(School of Chemical and Biomolecular Engineering, Georgia Inst. of Technol., Atlanta, GA 30332, USA)
,
FULLER Thomas F.
(School of Chemical and Biomolecular Engineering, Georgia Inst. of Technol., Atlanta, GA 30332, USA)
,
FULLER Thomas F.
(Center for Innovative Fuel Cell and Battery Technologies, Georgia Tech Res. Inst., Georgia Inst. of Technol. ...)
資料名：
Journal of Power Sources
(Journal of Power Sources)
巻： 169 号： 2 ページ： 288-295 発行年： 2007年06月20日
JST資料番号： B0703B ISSN： 0378-7753 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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