文献
J-GLOBAL ID:200902281455141584
整理番号:03A0770984 薄膜材料電磁定数の高周波広帯域測定
A Measurement of Elector-Magnetic Constants of Thin Films over a Broad Frequency Range
著者 (4件): 佐野義晴
(東京工科大 大学院工学研究科)
,
島田悠紀
(エイトPソフト)
,
高橋潔
(東京工科大 工)
,
河西宏之
(東京工科大 コンピュータサイエンス)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
103
号:
288(MW2003 151-163)
ページ:
49-56
発行年:
2003年09月04日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)