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文献
J-GLOBAL ID：200902281455141584
整理番号：03A0770984 薄膜材料電磁定数の高周波広帯域測定
A Measurement of Elector-Magnetic Constants of Thin Films over a Broad Frequency Range
佐野義晴
(東京工科大 大学院工学研究科)
, 島田悠紀
(エイトPソフト)
, 高橋潔
(東京工科大 工)
, 河西宏之
(東京工科大 コンピュータサイエンス)
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 103 号： 288(MW2003 151-163) ページ： 49-56 発行年： 2003年09月04日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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