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文献
J-GLOBAL ID：200902283187585043
整理番号：09A0420951
硫黄終端GaAs(001)-(2x6)面におけるX線表面散乱測定
小西智也
(阿南工高専)
,
東條孝志
(阿南工高専)
,
西脇永敏
(阿南工高専)
,
木原義文
(阿南工高専)
,
森時秀司
(阿南工高専)
,
多田孝
(阿南工高専)
,
藤川誠司
(日本原子力研究開発機構)
,
高橋正光
(日本原子力研究開発機構)
,
BELL Gavin
(英国ウォーリック大)
,
石井晃
(鳥取大 大学院工学研究科)
,
塚本史郎
(阿南工高専)
資料名：
応用物理学関係連合講演会講演予稿集
(Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 56th 号： 1 ページ： 447 発行年： 2009年03月30日
JST資料番号： Y0054A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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