文献
J-GLOBAL ID:200902284760592501
整理番号:04A0234861
Shape measurement of BGA for analysis of defects by X-ray imaging
著者 (7件):
SUMIMOTO T
(Okayama Univ., Okayama, JPN)
,
MARUYAMA T
(Okayama Univ., Okayama, JPN)
,
AZUMA Y
(Okayama Univ., Okayama, JPN)
,
GOTO S
(Okayama Univ., Okayama, JPN)
,
MONDOU M
(Eastern Hiroshima Prefecture Industrial Res. Inst., Fukuyama, JPN)
,
FURUKAWA N
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Hiroshima, JPN)
,
OKADA S
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Hiroshima, JPN)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
5253
ページ:
361-365
発行年:
2003年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)