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文献
J-GLOBAL ID：200902285007261574
整理番号：03A0745360
SiO2ガラス中の密度ゆらぎの仮想温度依存性
Fictive temperature dependence of density fluctuation in SiO2 glass
WATANABE T
(Toyota Technological Inst., Aichi, JPN)
,
SAITO K
(Toyota Technological Inst., Aichi, JPN)
,
IKUSHIMA A J
(Toyota Technological Inst., Aichi, JPN)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 94 号： 8 ページ： 4824-4827 発行年： 2003年10月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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