前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：200902285390745245
整理番号：05A0825749
伝導性原子間力顕微鏡観察によるSi(001)上のGe量子ドットの横方向組成研究
Studying the lateral composition in Ge quantum dots on Si(001) by conductive atomic force microscopy
XUE F.
(Surface Physics Lab. (National Key Laboratory), Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN)
,
QIN J.
(Surface Physics Lab. (National Key Laboratory), Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN)
,
CUI J.
(Surface Physics Lab. (National Key Laboratory), Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN)
,
FAN Y.l.
(Surface Physics Lab. (National Key Laboratory), Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN)
,
JIANG Z.m.
(Surface Physics Lab. (National Key Laboratory), Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN)
,
YANG X.j.
(Surface Physics Lab. (National Key Laboratory), Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN)
資料名：
Surface Science
(Surface Science)
巻： 592 号： 1-3 ページ： 65-71 発行年： 2005年11月01日
JST資料番号： C0129B ISSN： 0039-6028 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。