文献
J-GLOBAL ID:200902285514374402
整理番号:05A0365396
光化学蒸着SiO2層を有するAlGaN/GaN MOS-HFETの高温特性と高周波特性
High temperature and high frequency characteristics of AlGaN/GaN MOS-HFETs with photochemical vapor deposition SiO2 layer
著者 (9件):
WANG C.K.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
CHUANG R.W.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
CHANG S.J.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
SU Y.K.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
WEI S.C.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
LIN T.K.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
KO T.K.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
CHIOU Y.Z.
(Souther Taiwan Univ. Technol., Tainan, TWN)
,
TANG J.J.
(Souther Taiwan Univ. Technol., Tainan, TWN)
資料名:
Materials Science & Engineering. B. Solid-State Materials for Advanced Technology
(Materials Science & Engineering. B. Solid-State Materials for Advanced Technology)
巻:
B119
号:
1
ページ:
25-28
発行年:
2005年05月15日
JST資料番号:
T0553A
ISSN:
0921-5107
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)