前のページに戻る この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写(冊子体のコピー)をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID:200902285514374402   整理番号:05A0365396

光化学蒸着SiO2層を有するAlGaN/GaN MOS-HFETの高温特性と高周波特性

High temperature and high frequency characteristics of AlGaN/GaN MOS-HFETs with photochemical vapor deposition SiO2 layer
著者 (9件):
WANG C.K.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
CHUANG R.W.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
CHANG S.J.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
SU Y.K.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
WEI S.C.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
LIN T.K.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
KO T.K.
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
CHIOU Y.Z.
(Souther Taiwan Univ. Technol., Tainan, TWN)
TANG J.J.
(Souther Taiwan Univ. Technol., Tainan, TWN)

資料名:
Materials Science & Engineering. B. Solid-State Materials for Advanced Technology  (Materials Science & Engineering. B. Solid-State Materials for Advanced Technology)

巻: B119  号:ページ: 25-28  発行年: 2005年05月15日 
JST資料番号: T0553A  ISSN: 0921-5107  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写(コピー)して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写(コピー)は郵送またはFAXでお送りします

※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。