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文献
J-GLOBAL ID:200902285533693012   整理番号:03A0213079

新しい評価法による自己集合勾配ナノ粒子-高分子多層の研究 微小ビームすれすれ入射X線散乱

Self-assembled gradient nanoparticle-polymer multilayers investigated by an advanced characterization method: Microbeam grazing incidence x-ray scattering.
著者 (7件):
ROTH S V
(European Synchrotron Radiation Facility ESRF, Grenoble, FRA)
BURGHAMMER M
(European Synchrotron Radiation Facility ESRF, Grenoble, FRA)
RIEKEL C
(European Synchrotron Radiation Facility ESRF, Grenoble, FRA)
MUELLER-BUSCHBAUM P
(TU Muenchen, Garching, DEU)
DIETHERT A
(TU Muenchen, Garching, DEU)
PANAGIOTOU P
(TU Muenchen, Garching, DEU)
WALTER H
(November AG, Erlangen, DEU)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 82  号: 12  ページ: 1935-1937  発行年: 2003年03月24日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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