文献
J-GLOBAL ID:200902285533693012
整理番号:03A0213079
新しい評価法による自己集合勾配ナノ粒子-高分子多層の研究 微小ビームすれすれ入射X線散乱
Self-assembled gradient nanoparticle-polymer multilayers investigated by an advanced characterization method: Microbeam grazing incidence x-ray scattering.
著者 (7件):
ROTH S V
(European Synchrotron Radiation Facility ESRF, Grenoble, FRA)
,
BURGHAMMER M
(European Synchrotron Radiation Facility ESRF, Grenoble, FRA)
,
RIEKEL C
(European Synchrotron Radiation Facility ESRF, Grenoble, FRA)
,
MUELLER-BUSCHBAUM P
(TU Muenchen, Garching, DEU)
,
DIETHERT A
(TU Muenchen, Garching, DEU)
,
PANAGIOTOU P
(TU Muenchen, Garching, DEU)
,
WALTER H
(November AG, Erlangen, DEU)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
82
号:
12
ページ:
1935-1937
発行年:
2003年03月24日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)