文献
J-GLOBAL ID:200902285612547358
整理番号:08A1184732
内殻空孔クロック技術を用いた分子/金属界面を横切る電荷移動
Charge transfer across the molecule/metal interface using the core hole clock technique
著者 (5件):
WANG Li
(Dep. of Physics, Nanchang Univ., Nanchang 330031, CHN)
,
WANG Li
(Inst. for Advanced Study, Nanchang Univ., Nanchang 330031, CHN)
,
WANG Li
(Dep. of Physics, National Univ. of Singapore, 2 Sci. Drive 3, 117542, SGP)
,
CHEN Wei
(Dep. of Physics, National Univ. of Singapore, 2 Sci. Drive 3, 117542, SGP)
,
WEE Andrew Thye Shen
(Dep. of Physics, National Univ. of Singapore, 2 Sci. Drive 3, 117542, SGP)
資料名:
Surface Science Reports
(Surface Science Reports)
巻:
63
号:
11
ページ:
465-486
発行年:
2008年11月30日
JST資料番号:
E0422B
ISSN:
0167-5729
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)