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文献
J-GLOBAL ID:200902285932789376   整理番号:08A1241420

可逆回路における故障検出

On Fault Testing for Reversible Circuits
著者 (3件):
TAYU Satoshi
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
ITO Shigeru
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
UENO Shuichi
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)

資料名:
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻: E91-D  号: 12  ページ: 2770-2775  発行年: 2008年12月01日 
JST資料番号: L1371A  ISSN: 0916-8532  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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