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文献
J-GLOBAL ID：200902285932789376
整理番号：08A1241420
可逆回路における故障検出
On Fault Testing for Reversible Circuits
TAYU Satoshi
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
,
ITO Shigeru
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
,
UENO Shuichi
(Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E91-D 号： 12 ページ： 2770-2775 発行年： 2008年12月01日
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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