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文献
J-GLOBAL ID:200902286009913400   整理番号:09A0163892

無線設備応用のための48V GaN HFET素子技術の特性化および熱解析

Characterization and Thermal Analysis of a 48V GaN HFET Device Technology for Wireless Infrastructure Applications
著者 (12件):
GREEN B. M.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
HENRY H.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
SELBEE J.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
CLAYTON F.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
MOORE K.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
CDEBACA M.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
ABDOU J.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
LIU C-L.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
HARTIN O.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
HILL D.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
MILLER M.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
WEITZEL C. E.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)

資料名:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest  (IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest)

巻: 2008 Vol.3  ページ: 912-915  発行年: 2008年 
JST資料番号: A0636A  ISSN: 0149-645X  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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