文献
J-GLOBAL ID:200902286009913400
整理番号:09A0163892
無線設備応用のための48V GaN HFET素子技術の特性化および熱解析
Characterization and Thermal Analysis of a 48V GaN HFET Device Technology for Wireless Infrastructure Applications
著者 (12件):
GREEN B. M.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
,
HENRY H.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
,
SELBEE J.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
,
CLAYTON F.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
,
MOORE K.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
,
CDEBACA M.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
,
ABDOU J.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
,
LIU C-L.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
,
HARTIN O.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
,
HILL D.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
,
MILLER M.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
,
WEITZEL C. E.
(Freescale Semiconductor, Inc., Arizona)
資料名:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest
(IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest)
巻:
2008 Vol.3
ページ:
912-915
発行年:
2008年
JST資料番号:
A0636A
ISSN:
0149-645X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)